HCIP-Data Center Facility-BFDO(Huawei Certified ICT Professional-Data Center Facility-Build Facility Deployment Optimization)試験学習資料での高い復習効率
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Tech4Examはどんな学習資料を提供していますか?
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H12-425-ENU試験認定を取られるメリット
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Huawei HCIP-Data Center Facility-BFDO(Huawei Certified ICT Professional-Data Center Facility-Build Facility Deployment Optimization) 認定 H12-425-ENU 試験問題:
1. When the unit is working, the load of the UPS2000-G is connected to the PL, what condition will cause the load to be de-energized? (Multiple choice)
A) Mains input interruption
B) Overload
C) Mains low voltage
D) Battery low voltage
2. NeCol5000-C nitrogen filling pressure value is (); holding time is ().
A) 1.0MPa; 12h
B) 0.8MPa; 24h
C) 1.0MPa; 24h
D) 0.8MPa; 12h
3. The closer the PUE value of the data center is to 1, the better the energy efficiency level.
A) False
B) True
4. According to different layouts, the Fusion Module 2000 can realize battery entry or not.
A) False
B) True
5. () can realize the signal processing and centralized control of UPS5000-E.
A) Power module
B) Maintenance bypass module
C) Energy Control Module ECM
D) Bypass module
質問と回答:
質問 # 1 正解: B、D | 質問 # 2 正解: B | 質問 # 3 正解: B | 質問 # 4 正解: B | 質問 # 5 正解: C |